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涂層測厚儀試片和磁場對厚度的影響
日期:2024-12-23 07:18
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摘要:
涂層測厚儀試片和磁場對厚度的影響
試片
1、邊緣效應
本儀器對試片表面形狀的陡變敏感,因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
2、曲率
試件的曲率對測量有影響,這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
3、試片的變形
探頭會使軟覆蓋層試件產生變形現象,因此在這些試件上測量會出現不太可靠的數據。
試片
1、邊緣效應
本儀器對試片表面形狀的陡變敏感,因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
2、曲率
試件的曲率對測量有影響,這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
3、試片的變形
探頭會使軟覆蓋層試件產生變形現象,因此在這些試件上測量會出現不太可靠的數據。
磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場,會嚴重地干擾磁性測量厚度的工作。應避免在強磁場或強電場附近使用本儀器,否則儀器會顯示未知的數據,或者無法正常工作。