產品詳情
簡單介紹：
是否提供加工定制 否 品牌 QNIX
型號 7500 測量范圍 0-5000
測定對象 金屬基材上膜厚 測量精度 1μm
分辨率 0.1μm 電源 9V
尺寸 110×60×24mm（mm） 重量 0.15（kg
品名：QNIX7500膜厚儀
詳情介紹：
| 是否提供加工定制 | 否 | 品牌 | QNIX |
| 型號 | 7500 | 測量范圍 | 0-5000 |
| 測定對象 | 金屬基材上膜厚 | 測量精度 | 1μm |
| 分辨率 | 0.1μm | 電源 | 9V |
| 尺寸 | 110×60×24mm（mm） | 重量 | 0.15（kg） |
QNIX7500膜厚儀分為7500型和7500M記憶型兩款。該儀器無需校準，采用探頭與主機一體式設計，探頭也可以通過探頭線連接主機成分體式測厚儀。
QNIX7500膜厚儀特點：
零位穩定：**涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保準確測量。
無需校準：多數測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不*操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統誤差。
溫度補償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
QNIX7500膜厚儀技術指標：
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QuaNix技術參數
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型 號
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4200
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4500
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1200
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1500
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7500
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keyless
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基 體
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Fe
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Fe/NFe
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Fe
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Fe/NFe
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Fe、NFe、Fe/NFe
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Fe/NFe
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探頭形式
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一體
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一體、分體
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無線分體
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顯 示
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LCD數字顯示
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測量范圍
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0－3000μm
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Fe:0-3000μm
NFe：0－2000μm
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0－2000μm
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0－5000μm
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0－2000μm
0－5000μm
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0－5000μm
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測量精度
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0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，
2000－5000μm≤±3%
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顯示精度
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1μm
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0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
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工作溫度
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－10 － ＋60℃
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溫度補償
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0－50℃
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存 儲
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－
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1500M型
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7500M型
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keylessM型
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3900個測量值，999個數據組
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數據傳輸
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－
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RS232打印、電腦
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統計功能
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－
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平均值、*大值、*小值、標準偏差
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超限報警
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－
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上下限
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*小基體
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10mm×10mm
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*小曲率
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凸、凹半徑：3mm/25mm
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凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
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*薄基體
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Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
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電 源
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5號電池2節
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9V堿性電池1節
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5號電池2節
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重 量
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110g
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130g
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150g
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130g
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尺 寸
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110×60×27mm
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166×64×34mm
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110×60×24mm
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110×62×22mm
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