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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀

  • 產(chǎn)品型號:SP 1100
  • 產(chǎn)品廠商:TQC Sheen
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀,采用楔型切割法,只需要在涂層上切一個小口,借助LED照明顯微鏡測量網(wǎng)格測量切口,可以計算得到μm和mil的測試結(jié)果。
詳情介紹:

TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀,采用楔型切割法,只需要在涂層上切一個小口,借助LED照明顯微鏡測量網(wǎng)格測量切口,可以計算得到μm和mil的測試結(jié)果。

    荷蘭TQC原裝進口,TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀將切割刀具和測試顯微鏡合并在同一儀器中,可以使用在所有的基材上。不像常規(guī)的膜厚儀分磁性金屬和非磁性金屬底材,可適用所有底材上的涂層厚度測量。

    TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀符合ISO 2808/ASTM D 4138-0l/GB/T 13452.2等多種標準,操作簡單,使用方便。

TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀特點

全基材均可以測量
便攜式設(shè)備,攜帶方便
配備LED照明50倍顯微鏡
評估測量涂層缺陷方便快捷
帶有雙尺度測量網(wǎng)線,讀數(shù)方便

TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀技術(shù)參數(shù)

測量范圍:2 - 1800μm
分辨率:zui小2μm
顯微鏡:50倍帶刻度顯微鏡
電源:4節(jié)1.5V電池
材質(zhì):鋁鈦合金
尺寸:25×110×65mm
    

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