改善 給電子學領域,新型37DL PLUS為很多標準測量方式帶來**。新的A掃描顯示,更好的對比度和可見性,使顯示更加清晰。存儲在B掃描中的每個厚度讀數(shù)可以在WIN37DL PLUS界面程序和測量儀上瀏覽。用戶可選擇查看柵格結點標記 (*小/*大,報警式或A掃描) 。基于文件的字母數(shù)字的存儲器,可以使用更長的文件名 (*多32字符) 和ID號 (*多20字符) 。網(wǎng)格文件可以通過增加行、列或改變增量方向進行擴展。 新型探頭 37DL PLUS腐蝕測厚儀可以使用不同排列方式的雙晶片和單晶片探頭。探頭自動識別功能,可對按線型排列的每個D790系列雙晶片探頭進行識別,從而得到*佳測量結果。37DL PLUS腐蝕測厚儀還可使用電磁超聲探頭E110-SB EMAT,透過氧化皮對鋼表面無耦合劑的厚度測量。M2017和M2091探頭*適合于對鍋爐管道內(nèi)壁氧化沉積物的測量。37DL PLUS腐蝕測厚儀 與Panametrics-NDT的頻率范圍從2到30兆赫的Microscan探頭系列兼容,包括:單晶片接觸式、延遲線式和水浸式探頭。此外,該測量儀亦可用于非腐蝕材料諸如塑料、玻璃纖維、復合材料、橡膠、鑄件、橡膠和玻璃的測量應用。應用自動調(diào)用功能,可從其存儲器中自動調(diào)用16個缺省的和 10個Microscan探頭設置。 |
| 透過涂層技術 |
這個**技術,利用單一的背反射回波測量金屬的實際厚度。37DL PLUS可以顯示金屬和涂層厚度,其中每一種都相應調(diào)整材料聲速。 可將測厚儀設置為*顯示金屬的實際厚度。測量無需去除表面的油漆或涂層。 透過涂層測量使用新型D7906-SM和D7908雙晶片探頭。 37DL PLUS用單一的背反射回波,自動計算和顯示涂層厚度 (0.019英寸) 和金屬厚度 (0.284英寸) 。 |
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| 溫度補償 材料溫度的變化,引起聲波在其中傳播速度的變化,進而影響測量的精度。溫度補償功能允許用戶輸入校準塊的溫度值,并且手動或自動輸入測量點當前(高)溫度。 | 37DL PLUS將顯示在校正溫度下的厚度值,并將其存入內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲器。 校準溫度與材料本身溫度差值為932°F, 0.376英寸的厚度讀數(shù),將可補償材料聲速的變化。 |
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| DB柵格視圖 改善的柵格視圖特點允許用戶對應每個柵格點選擇查看*小/*大值、報警或者A掃描的標記。 這允許用戶通過文件迅速掃描和找出*小/*大值、報警或者A掃描的位置。 標記清晰地表明(H)高值報警和(L) 低值報警的厚度測量值。 |
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| 氧化皮/沉積物測量(選擇項) 這一新增可選項,使用*的算法測量鍋爐管道內(nèi)壁氧化皮或沉積物的厚度。測量儀同時顯示鍋爐管道的金屬基底厚度和氧化皮的厚度,從而有助于管道壽命的預測。此項應用,我們推薦使用M2017或M2091探頭。 |
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